一、课程信息

（一）基本信息

课程号：

课程中文名称：材料表征

课程英文名称：Physical Methods for Materials Characterizations

周学时：4

学  分：4

先修课程：固体物理、量子力学

建议教材：无

参考资料：

• Physical Methods for Materials Characterization, P. E. J. Flewitt and R. K. Wild, Institute of Physics, 1993

• Transmission Electron Microscopy, D. B. Williams and C. B. Carter, Plenum Press, 1996

• Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R. F. Egerton, Springer, 2005

• An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, J. F. Watts and J. Wolstenholme, John Wiley & Sons Ltd. 2003

• Modern Raman Spectroscopy-A Pratical Approach, E. Smith and G. Dent, John Wiley & Sons Ltd. 2005

• High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures, Pietsch et al., published as Volume 149 in the series: Springer Tracts in Modern Physics 2nd ed., 2004

（二）内容简介（>300字）

《材料表征》课程介绍表征材料微观结构和化学组成的物理方法。主要包括以下内容：（1）粒子与材料的相互作用，由此得到各种分析方法的分析深度和探测范围；（2）X射线衍射的运动学，对固体样品进行物相分析、测定晶胞参数和点阵的方法；（3）扫描电子显微的基本原理，相关的X射线能谱和波谱技术；（4）透射电子显微的基本原理；（5）扫描隧道显微、原子力显微、压电力显微、Kelvin力显微等各种扫描力显微技术的基本原理和图像分析；（6）Auger电子能谱、X射线光电子能谱、紫外光电子能谱、二次离子质谱等表面分析技术的基本原理和分析方法；（7）Raman和红外光谱技术的基本原理。课程通过课堂多媒体演示、习题和上机操作等方法强调对各种表征技术基本原理的理解，力图让员工掌握解决实际问题的方法。

（三）内容简介（英文）（可选）

二、教学目标和学习要求（通过此课程学习，员工应该掌握的知识或者能力）

掌握材料组分和结构表征的基本原理和数据分析方法。

三、其他（其他教师认为员工应该知晓的事项）

无。